数显立式光学计报价数显立式光学计报价（被测件0～180mm，小示值0.1µm，载物台是圆的 直径是88mm） 型号:JDG-S2库号：M405347 JDG-S2 数字式立式光学计被测件0～180mm，zui小示值0.1µm一、用途 数字式立式光学计JDG-S2是一般是用标准器（如量块）以比较法测量工件的尺寸。主要用于对五等量块，量棒，钢球，线形及平行平面状量具和零件的外形尺寸作测量，本仪器头部亦可作为一个独立体，在科研，过程控制及在线测量等方面，对被测件作微小位移测量，及对非金属如：薄膜、纸张等的厚度测量。 主要参数
被测件*大长度： 200mm
直接测量范围： 10mm
zui小显示值： 0.1μm
测量力： (2±0.2)N
示值变动性： 0.1μm
zui大不准确度： ±0.25μm
读数方式： 数字显示
zui大测量误差是： ±(0.5+L/100)μm ，L是被测长度,以mm计
仪器体积： 300×170×410mm
仪器重量：18 kgs 主要用于对五等量块，量棒，钢球，线形及平行平面状量具和零件的外形尺寸作测量，本仪器头部亦可作为一个独立体，在科研，过程控制及在线测量等方面，对被测件作微小位移测量，及对非金属如：薄膜、纸张等的厚度测量。主要用于对五等量块，量棒，钢球，线形及平行平面状量具和零件的外形尺寸作测量，本仪器头部亦可作为一个独立体，在科研，过程控制及在线测量等方面，对被测件作微小位移测量，及对非金属如：薄膜、纸张等的厚度测量。主要用于对五等量块，量棒，钢球，线形及平行平面状量具和零件的外形尺寸作测量，本仪器头部亦可作为一个独立体，在科研，过程控制及在线测量等方面，对被测件作微小位移测量，及对非金属如：薄膜、纸张等的厚度测量。
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