涂层测厚仪报价涂层测厚仪报价 型号:KM1-LS225库号：M410468 LS225涂镀层测厚仪由LS225主机和探头组成，目前主机可支持F500铁基探头和N1500、N2000非铁基探头。F500和N1500采用小探头设计，适合于钉子、螺栓等小工件的薄镀层或各种铝材表面、阳极氧化层测量。N2000采用自重触发测量设计，适合测量平面板材的涂层厚度。 探头型号 F500铁基探头 测量原理：磁感应 基体材料：铁磁性金属 测量范围：0.0~500μm 测量间隔： 1.5s(单次模式) 0.4s(连续模式) 分辨率： 0.1μm:（0μm ～ 99.9μm） 1μm:（100μm ～500μm） 重复性：≤±（0.8%H+0.1μm）手压测试机架测试，H为标准值 误差：±（2%H+0.3μm）五点校准，H为标准值 单位：μm / mil 曲率半径：凸面1.5mm，凹面10mm 基体厚度：0.1mm 适合于钉子、螺栓等小工件的薄镀层或各种铝材表面、阳极氧化层测量。N2000采用自重触发测量设计，适合测量平面板材的涂层厚度。适合于钉子、螺栓等小工件的薄镀层或各种铝材表面、阳极氧化层测量。N2000采用自重触发测量设计，适合测量平面板材的涂层厚度。适合于钉子、螺栓等小工件的薄镀层或各种铝材表面、阳极氧化层测量。N2000采用自重触发测量设计，适合测量平面板材的涂层厚度。 
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