方块电阻测试仪报价方块电阻测试仪报价型号:TZ241-ST-21库号：M397541 方块电阻测试仪是测量半导体薄层电阻(表面电阻)的仪器，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜等同类物质的薄层电阻。 该仪器以集成电路为；用基准电源和运算放大器组成稳流源；带回路正常指示电路；并配以LCD显示读数。 特点 1采用集成电路作为仪器的主要部分； 2以LCD显示读数； 3采用单个电池供电，带电池欠压指示； 4体积≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g； 5手握式探笔，球形探针、镀金探针接触被测材料及保护薄膜 6探头带抗静电模块 技术指标 测量范围 按方块电阻量值大小分为二个量程档： 1.方块电阻 1.00～199.99Ω/□； 2.方块电阻 10.0～1999.9Ω/□； 分辨率：0.01Ω/□ 恒流源 测量过程误差：≤±0.8% 模数转换器 量程：0～199.99mv； 分辨率：10μv； 方式：LCD显示；过量程均自动显示；小数点同步显示； 测量不确定度 在整个量程范围内，测量不确定度≤5% 四探针探头规格 间距：1mm、1.59mm、3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；绝缘电阻≥500MΩ 电源 9V叠层电池1节 
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