硅材料复合测试仪，是由二种硅材料测试仪器组合而成的 1，二量程的电阻测量仪器，配以手持式四针测试头或座式测试架，可用来测量片状，柱状，或块状，电阻率 在0.01~200欧姆/厘范围内的半导体材料。通过对恒流源的调整，可以对某些测量结果进行修整，例如对普通硅材料的测试结果要乘以0.628的探险头修正系数，对硅材料薄层扩散和导电薄膜 “方块电阻“ 的修正系数为4.53等均可通过调正恒流电流加以处理。 ST512-SZT-5数字式四探针测试仪，体形小巧，操作方便，量程适中，十分适於对重炼回料的分选。 2，整流法硅材料P-N极性判别仪，配有三针手持式探头，能对片状或块状电阻率在1000-0.01欧姆/厘米的。硅材料进行极性判别 本仪器工作环境条件为： 温 度：18℃―25℃ 相对湿度：50%－70% 工作室内应无强电场干扰，不与高频设备共用电源。 二，技术参数 1,测量范围 （1）电阻率测量： 电 阻 率 0.01-200Ω-cm 方块电阻 0.01-200Ω-口 电 阻 0.01-200.0Ω 2,数字电压表 （1）量 程 : 200mV单一量程 （2）误 差: 读数 ±0.2%±3字 （3）输入电阻 : >10MΩ 3,恒 流 源 （1）电流输出 0~10mA连续可调 （2）量 程 1mA, 10mA （3）误 差 ±0.2%±3字, 4,手持式四探针测试头 （a）探 针 间 距:: 1mm （b）探针机械游移率: ±1.0% （c）探 针 材 料: 碳化钨,φ0. （d）压力: zui大 2Kg （2）导电类型判别： |
