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FT-331普通四探针方阻电阻率测试仪
描述：
采用范德堡测量原理能解决样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，提供通讯接口，PC软件数据处理及数据分析.中文或英文语言版本.
二.参照标准：
硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）及国标设计制造；GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.
三.适用范围：
适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析半导体材料质量的工具；液晶显示，自动测量和系数补偿，并带有温度补偿功能，自动转换量程；采用芯片控制，恒流输出，选配：PC软件，保存和打印数据，生成报表
用于：覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试等相关产品
规格型modelFT-331
1.方块电阻范围10^-5～2×10^5Ω/□
2.电阻率范围 10^-6～2×10^6Ω-cm
测试电流范围0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA
4.电流精度 ±0.1%
5.电阻精度 ≤0.3%
6.显示读数液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率
7.测试方式普通单电测量
8.工作电源输入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：<30W
9.误差≤4%（标准样片结果）
10.选购功能选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台；5.标准电阻.
11.测试探头探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格; 探针材质选购：碳化钨针;白钢针；镀金磷铜半球形针
12.标准电阻（选购）规格：1mΩ、10mΩ、100mΩ、1Ω、10Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ
标准配置外订购明细：
序号型号品名单位数量备注
1340-CSX测试线套1
209A标准电阻个1-5选购规格和数量
306A四探针测试平台套1含探头1个
406B四探针探头个1方型或直线型选购
5340-TTZ镀金弹簧铜针4根组14根为一组
6340-WTZ弹簧钨针4根组14根为一组
7340-RJ分析软件套1
8PC电脑+打印机套1依据客户要求配置
9300-JL检测技术服务份1计量证书1份
10WDCGQ温度传感器套1常温-125度
331-YB延保服务 年1-3
