谷物外观品质分析仪报价谷物外观品质分析仪报价 型号:KVS-GW1库号：M178016 谷物外观品*质分析仪型号：KVS-GW1 技术参数*1检测对象：小麦、玉米、稻谷、大豆；*2样品类型：净粮、半净粮；*3检测时间：≤200秒（100g样品）； *4检测方法：振动送料，玻璃转盘逐粒检测，高清图像采集，保留样品原始状态，对样品无损坏。正反图像自动配准，将正反面观测到的图像组合成完整谷物图像，自动完成正反面缺陷特征组合，后通过深*度学习算法分析，得出每粒样本的不完善分类结果；
5检测项目：小麦可检测杂质和不完善粒（虫蚀粒、破损粒、生芽粒、生霉粒、病斑粒、黑胚粒、赤霉粒）；
玉米可检测杂质和不完善粒（虫蚀粒、破损粒、生芽粒、生霉粒、热损*伤粒、病斑粒）以及霉变粒；
稻谷可检测杂质和谷外糙米率、出糙率、整精米率、黄粒米率；
大豆可检测杂质和完整粒、虫蚀粒、破损粒、生芽粒、生霉粒、病斑粒、热损*伤粒、未熟粒。
*6检测结果：包括正常粒和不完善粒各分类别的质量、粒数，不完善粒总的和各分类别占原粮的质量比和粒数比；
7扩展接口：RS485，RS232、HDMI、USB3.1、网口、串口，可外接打印机；
*8扩展性：支持自动化改造和指标定制需求；
9数据处理与存储：能完成检测数据的自动存储和查询，存储空间不低于500GB；
10检测软件：可以安装在内置嵌入式操作系统或外置电脑操作系统上；
*11软件：可提供小麦、玉米、稻谷、大豆等多个检测模块并提供相关模块的软件；
*12提供分类展示功能，按正常粒、虫蚀粒、破损粒、生芽粒、生霉粒和病斑粒等类别，展示对应的样品原始图像；
13提供历史检测记录的查询和打印功能；
*14提供历史检测记录的快捷导出功能，插上U盘，即可一键导出；
15提供一键开关机功能；
16仪器具有缺料自动停止功能，当设定时间内系统没有检测到物料时，设备自动停止工作；
*17仪器具备AI深*度学习功能，不同地区各种类样本对不完善粒认定有一定差别时，仪器可利用少量样本进行快速学习达到新的质检标准并生成存储检测模型；
18适用性：具有抗振动环境适用性，正常车载运输不影响仪器检测精度；
*19准确性：≤1%；
*20重复性：≤0.5% ；
21显示器：21.5寸；
22处理器：NVIDIA Jetson AGX Xavie；r
*23高性能CPU ：8-Core Carmel ARM V8.2 64-Bit CPU, 8MB L2 + 4MB L3；
*24高性能GPU：512-Core Volta GPU with 64 Tensor Cores；
*25内置上下两套清理系统，保证玻璃转盘的洁净度；
*26相机类型：线阵相机；
*27具有改判功能，可以实现人工修正数据；
*28内置特制轨道修正器，保证样品在相机的拍摄范围内；
*29内置特制自动喂料器，保证样品下料的均匀度；
30功率：800W；
31噪音：75dB；
32工作温度：-10℃ ~ 40℃；
33湿度：≤85%RH；
34电源：AC220V±20V，50HZ/60HZ；
35机器尺寸：800mm*600mm*900mm;
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